儀電物光WKL-702 顆粒圖像分析儀上海儀電物理光學(xué)
                儀電物光產(chǎn)品報(bào)價(jià):0.00
顆粒測量的顆粒分析儀器
1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。
| 屬性 | 參數(shù) | 
| 儀器型號 | WKL-702 | 
| 測量范圍 | 0.1~3000(微米) | 
| 總放大倍數(shù) | 8000倍 | 
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 | 
| 重復(fù)性 | 誤差≤±1% | 
| 自動分割速度 | ≤1秒 | 
| 數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬像素 | 
| 數(shù)據(jù)儲存 | 電腦另配 | 
| 通信接口 | USB | 
| 操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 | 
| 電源 | AC220V ±10% 200W | 
| 儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm | 
| 儀器凈重 | 15kg | 
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